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先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述:APD-QE 采用了光束空間強(qiáng)度技術(shù),利用 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)制定的「Irradiance Mode」測(cè)試方式,與各種先進(jìn)探尖臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測(cè)器全光譜效率測(cè)試解決方案。APD-QE 已被應(yīng)用于多種先進(jìn)光感測(cè)器的測(cè)試中,例如在iPhone 曝光及其多種光感測(cè)器、Apple Watch 血氧光感測(cè)器、TFT 影像感測(cè)器、源動(dòng)態(tài)圖元感測(cè)器(APS)、高靈敏度間切換 X 射線感測(cè)器等。

  • 產(chǎn)品型號(hào):APD-QE
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-06-28
  • 訪  問(wèn)  量: 1391

詳細(xì)介紹

品牌Enlitech價(jià)格區(qū)間面議
測(cè)量模式交流產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,能源

特色


  • 使用均勻光源的「照度模式」(Irradiance Mode) 符合ASTM E1021

  • 取代傳統(tǒng)聚焦小光源,可以測(cè)試等級(jí)光電子檢測(cè)器。

  • 均勢(shì)光斑可以克服色散差與像差的問(wèn)題,可準(zhǔn)確測(cè)量得EQE曲線

  • 可搭配多種探針系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)非破壞性的快速測(cè)試。

  • 整合光學(xué)與測(cè)試系統(tǒng),提高系統(tǒng)搭建效率。

  • 一體式自動(dòng)化測(cè)試軟件,自動(dòng)光譜保存與檢測(cè),工作效率高。

  • 測(cè)試特性:

– 環(huán)境效率 EQE

– 光譜回應(yīng) SR

– IV 曲線檢測(cè)

– NEP 光譜檢測(cè)

– D* 光譜檢測(cè)

– 噪聲-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz)

Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析



專業(yè)技術(shù)


先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)定制化光斑尺寸與光強(qiáng)度

光焱科技APD-QE光譜儀量子效率檢查系統(tǒng)在光束直達(dá)25mm光束尺寸、工作距200mm條件下檢查,可以達(dá)到光強(qiáng)度與光均強(qiáng)度如下。在波長(zhǎng)530nm時(shí),光強(qiáng)度可以達(dá)到82.97uW/(cm 2 )。


波長(zhǎng) (納米)半高寬(nm)光均U%=(Mm)/(M+m)
5毫米×5毫米3毫米×3毫米
47017.651.6%1.0%
53020.131.6%1.2%
63019.851.6%0.9%
100038.891.2%0.5%
140046.051.0%0.5%
160037.401.4%0.7%


在光斑直徑25mm、工作距200mm條件下,APD-QE探測(cè)器量子效率測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量的光均強(qiáng)度。

光焱科技具備自主光學(xué)設(shè)計(jì)能力。光斑與光強(qiáng)度在內(nèi)容中,可以接受客製化,如有需要與我們聯(lián)繫。



先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)定量控制功能


APD-QE 光感測(cè)器量子效率檢測(cè)系統(tǒng)具有「定量」功能(選配),用戶可以透過(guò)控制各個(gè)單色光子數(shù),讓各波長(zhǎng)光子數(shù)都一樣,并進(jìn)行測(cè)試。這也是光感測(cè)科技 APD-QE 光感測(cè)器量子效率檢測(cè)系統(tǒng)的獨(dú)到技術(shù),其他廠商都做不到。


先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)使用定量子數(shù)控制模式(CP控制模式),子數(shù)變化可以 < 1%


系統(tǒng)架構(gòu)

先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)


系統(tǒng)規(guī)格

統(tǒng)一系統(tǒng)與探針整合

先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)
可量測(cè)可客裂解
1.最終光強(qiáng)校正.客化暗箱
2.光譜響應(yīng)測(cè)定.XYZ軸位移平臺(tái)
3.外部量子效率(EQE).定制探針臺(tái)整合服務(wù).
4.NEP 光譜
5.D*光譜
6.噪音-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 )
7.Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
8.IV 曲線測(cè)試
.不同光IV 曲線測(cè)試
.定電流/電壓,電壓/電流間變化測(cè)試
.照光條件下

高均光斑

  采用了利傅立葉光學(xué)元件均光系統(tǒng),可將單色光強(qiáng)度空間分布均勢(shì)化。在 10mm x 10mm 面積以 5 x 5 檢測(cè)光強(qiáng)度分,不一致勢(shì)在 470nm、530nm、630nm、850nm 均可小於 1%。在 20mm x 20mm 面積以 10 x 10 矩檢測(cè)光強(qiáng)度分,不一致勢(shì)可以小於 4%。


PDSW 軟體

  PDSW軟件采用全新SW-XQE軟件平臺(tái),可進(jìn)行多種自動(dòng)化檢測(cè),包含EQE、SR、IV、NEP、D*、速率雜訊電流圖(A/Hz1/2)、雜訊分析等。



▌EQE 測(cè)試

  EQE測(cè)試功能,可以進(jìn)行不同單色波長(zhǎng)測(cè)試,并且可以自動(dòng)測(cè)試全光譜EQE。


▌IV檢查

  軟體可支持多種 SMU 控制,自動(dòng)進(jìn)行光照 IV 測(cè)試以及暗態(tài) IV 測(cè)試,并支持多圖顯示。


▌D* 與 NEP

  相對(duì)于其它 QE 系統(tǒng),APD-QE 可以直接檢測(cè)并得到 D* 與 NEP。


▌速率-雜訊電流曲線


▌可升級(jí)軟件

  升級(jí)FETOS軟件操作界面(選配),可測(cè)試3端與4端的Photo-FET組件。


內(nèi)部集成探針臺(tái)


  APD-QE 系統(tǒng)由其出色的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),可以組成多種探針臺(tái)。全波長(zhǎng)光譜儀的所有光學(xué)元件都集成在精巧的系統(tǒng)中。單色光學(xué)儀引到探針臺(tái)遮光罩盒。圖像顯示了 MPS-4-S 基本探針臺(tái)組件,帶有 4 英寸真空吸入盤和 4 個(gè)帶有低噪音三軸電子的探針微定位器。

先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)
先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)
先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

  集成探針臺(tái)顯示微鏡,手動(dòng)滑動(dòng)切換到被測(cè)試設(shè)備的位置。使用滑動(dòng)條件后,單色光源器被「固定」在設(shè)計(jì)位置。顯示微圖像可以顯示于屏幕上,方便用戶進(jìn)行良好的連接。


可客制化整合多種探針與遮光暗箱

先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

A. 定制化隔離遮光箱。
B. 由于先進(jìn)的PD估算響應(yīng)速度,所以有效面積就要?。ń档腿萘啃剩?,因此,有很多需要整合探針臺(tái)的需求。
C. 可整合不同的半導(dǎo)體分析儀器如4200或E1500。


應(yīng)用程式

  1. LiDAR 中的光電探測(cè)器
    – InGaAs 光電二維 / SPAD

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  3. 用於高增益感和成像光電二極體門控電晶體

  4. 高頻電感增益和填充系數(shù)光學(xué)靈敏度分析儀

  5. 高靈敏程度間轉(zhuǎn)換X射線探測(cè)器表徵

  6. 矽光學(xué)
    – InGaAs APD











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