當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > > EQE/光子-電子轉(zhuǎn)換測(cè)試 > APD-QE先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)
簡(jiǎn)要描述:APD-QE 采用了光束空間強(qiáng)度技術(shù),利用 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)制定的「Irradiance Mode」測(cè)試方式,與各種先進(jìn)探尖臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測(cè)器全光譜效率測(cè)試解決方案。APD-QE 已被應(yīng)用于多種先進(jìn)光感測(cè)器的測(cè)試中,例如在iPhone 曝光及其多種光感測(cè)器、Apple Watch 血氧光感測(cè)器、TFT 影像感測(cè)器、源動(dòng)態(tài)圖元感測(cè)器(APS)、高靈敏度間切換 X 射線感測(cè)器等。
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品牌 | Enlitech | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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測(cè)量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源 |
使用均勻光源的「照度模式」(Irradiance Mode) 符合ASTM E1021
取代傳統(tǒng)聚焦小光源,可以測(cè)試等級(jí)光電子檢測(cè)器。
均勢(shì)光斑可以克服色散差與像差的問(wèn)題,可準(zhǔn)確測(cè)量得EQE曲線
可搭配多種探針系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)非破壞性的快速測(cè)試。
整合光學(xué)與測(cè)試系統(tǒng),提高系統(tǒng)搭建效率。
一體式自動(dòng)化測(cè)試軟件,自動(dòng)光譜保存與檢測(cè),工作效率高。
測(cè)試特性:
– 環(huán)境效率 EQE
– 光譜回應(yīng) SR
– IV 曲線檢測(cè)
– NEP 光譜檢測(cè)
– D* 光譜檢測(cè)
– 噪聲-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz)
– Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
光焱科技APD-QE光譜儀量子效率檢查系統(tǒng)在光束直達(dá)25mm光束尺寸、工作距200mm條件下檢查,可以達(dá)到光強(qiáng)度與光均強(qiáng)度如下。在波長(zhǎng)530nm時(shí),光強(qiáng)度可以達(dá)到82.97uW/(cm 2 )。
定量控制功能
使用定量子數(shù)控制模式(CP控制模式),子數(shù)變化可以 < 1%
統(tǒng)一系統(tǒng)與探針整合
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