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新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備

簡(jiǎn)要描述:單光子探測(cè)器可以對(duì)單個(gè)光子進(jìn)行探測(cè)和計(jì)數(shù),在許多可獲得的信號(hào)強(qiáng)度僅為幾個(gè)光子能量級(jí)的新興套用中,單光子探測(cè)器可以一展身手。SPD2200是針對(duì)新型的單光子偵測(cè)器(SPD, Single Photon Detector),如應(yīng)用於dToF的SPAD(Single Photon Avalanche Detector)光感測(cè)器,的特性測(cè)試分析設(shè)備。

  • 產(chǎn)品型號(hào):SPD2200
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-03-27
  • 訪  問(wèn)  量: 2312

詳細(xì)介紹

品牌Enlitech價(jià)格區(qū)間面議
應(yīng)用領(lǐng)域電子,汽車暗計(jì)數(shù)(Dark?Count?Rate)DCR
產(chǎn)地類別進(jìn)口測(cè)量模式咨詢光焱科技專家

特色

SPD2200具備全光譜性能測(cè)試包含


*全光譜光譜響應(yīng)(SR, Spectral Responsivity)

*全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)

*全光譜光子探測(cè)率(PDP, Photon Detection Probability)

*暗計(jì)數(shù)DCR (Dark Count Rate)

*崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)


SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析,包含:

*Jitter

*Afterpulsing probability

*Diffusion tail

*SNR

SPD2200整合了所有*進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng),搭配光焱科技多年光傳感器測(cè)試與分析的經(jīng)驗(yàn),提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能。SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時(shí)間成本,并降低測(cè)試結(jié)果的不確定性。加快產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)周期,提升產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。

實(shí)證

*SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)系圖

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*SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓

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*在不同電壓下SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜

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*SPAD的Jitter測(cè)量

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